检测仪器ES-200
检测仪器ES-200
表面特征应用:
1、厚膜电路测量:混合集成电路,LTCC等叠层工艺,对电路层进行全部扫描,设置自动测量工程。
2、表面粗糙度测量:Effecttek光学检测系统为一系列自动化生产工艺提供非接触、超快速的表面微观扫描和分析,并提供实时报告。
产品参数资料仅限会员下载阅览。请进行会员申请或帐号登录后下载查看。
检测仪器ES-200
表面特征应用:
1、厚膜电路测量:混合集成电路,LTCC等叠层工艺,对电路层进行全部扫描,设置自动测量工程。
2、表面粗糙度测量:Effecttek光学检测系统为一系列自动化生产工艺提供非接触、超快速的表面微观扫描和分析,并提供实时报告。
产品参数资料仅限会员下载阅览。请进行会员申请或帐号登录后下载查看。
以质量第一、客户至上、技术为先的目标建立一个永续经营的服务环境,并以专业、主动、积极、诚信替客户满意解决问题,建立良好的互动关系,并维系与落实产品的质量及完善的售后服务。
联系我们